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深紫外熒光系統成像功能：熒光強度或光譜成像/熒光壽命成像/深紫外成像；激發波長：206nm/257nm/343nm/515nm。

科研級鈣鈦礦材料-器件綜合光譜表征系統介紹： 高精度PL/EL強度、發射光譜,時間分辨PL,PLQE,QFLS,贗J-V氣 高分辨光電流/光電壓成像 激光/樣品掃描可選 兼容高壓、低溫等模塊 集采集、分析于一身的控制軟件

科研級寬禁帶半導體綜合表征系統介紹： TPL300-UV同時具備時間分辨、光譜分辨和空間分率功能。系統使用科研級正置顯微鏡和高精度XY位移臺，整體結構穩定,操作簡單,可以實現熒光壽命采集、熒光發射譜采集、熒光強度/壽命成像、SHG成像、拉曼成像等功能。激發波長可全自動程控切換,熒光探測波長可覆蓋紫外200 nm,激發波長可覆蓋紫外206 nm。