在當下國際經濟與科技格局中，貿易摩擦風云變幻，深刻影響著各個領域的發展走向。加速科研設備的國產化替代進程已然成為我國科研及相關產業持續、穩健發展的必然選擇與迫切需求。
創銳光譜作為時間分辨光譜技術領域的企業，自2016年成立之初，便堅持走高端科研儀器自主研發、自主生產的發展路線。堅持核心部件自研，將解決“關鍵技術卡脖子”問題作為目標。歷經近10年的艱苦探索，已成功實現包括納秒激光器、OPO、高速光電探測器、高穩定直線位移臺、單色儀等在內的多個核心零部件研發或國產化替代，形成穩定的自研及本土供應系統。部分核心技術指標更是實現對國外進口設備的超越。創銳光譜基于深厚的技術積累與創新實踐，陸續構建起涵蓋瞬態吸收系列、熒光光譜系列、非線性光學系列、高速光電探測器、高能高頻納秒激光器、泛半導體光學無損檢測系列等總計六大類，近30款相關產品，為我國科研及相關產業發展提供了有力的技術支撐與產品保障。
代表產品：
超快瞬態吸收光譜系統
首套國產超快瞬態吸收光譜系統
自研直線位移臺、自研高速光譜儀、自研分析軟件
時間窗口：8 ns
覆蓋光譜范圍：280-1650 nm
時間分辨率1.5x 激光脈寬
系統信噪比：≤10-5 OD
支持可見、近紅外成像探測
支持透射、反射等多種測試模式
全國產化閃光光解系統
自研單色儀、自研納秒激光器
·雙單色儀設計，在樣品前分光，有效減少樣品損傷
·配備500 M示波器，時間分辨率高達2 ns
·多功能樣品室，并可搭配流動池使用
·全自動數據采集/分析系統，支持多種模式數據擬合程序
高能高頻DPSS連續可調一體式激光器
一體式機身，高能高頻輸出，針對醫療、環境探測、激光雷達領域。波長連續可調諧。
國產化百KHz雙線陣探測器
SiC，作為優秀的第三代半導體材料，在6G技術發展、航空航天等前沿領域占據著重要的地位。但SiC 晶圓無損缺陷檢測技術的缺失，一直是制約我國相關產業發展的難題。相關廠商每年因有損檢測導致的晶圓損耗金額高達千萬元，這不僅造成資源浪費，也阻礙了產業的高效發展。創銳光譜創新性地將時間分辨光譜技術運用在SiC晶圓無損檢測上，推出世界首套SiC位錯無損檢測系統。這對于國內SiC企業降本增效、從源頭上降低全行業產業鏈的生產成本，有著積極重要的意義。
SiC晶圓襯底位錯無損檢測系統
關鍵指標：
支持晶圓尺寸：4’/6’/8’/12’
支持晶錠尺寸：8’
位錯類型：TED/BPD/TSD
單片檢測時間：≤5 min（自動多倉版）；15 min（手動版）
無損檢測，可實現自動片片檢，全面提升晶圓良率。
創銳光譜愿與國內所有科研單位及國產企業攜手共進，全力推動科研設備國產化進程，共同書寫屬于中國科技的崛起篇章。
更新時間：2025-04-14
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